一种导通压降测试电路与结温测试仪
一种导通压降测试电路与结温测试仪,涉及电子电路技术与功率半导体可靠性领域。检测电路的第一端为导通压降测试电路的输入端,检测电路的第二端用于连接第一电压跟随电路的第一端,检测电路的第三端用于连接第二电压跟随电路的第一端,检测电路的第四端为导通压降测试电路的第一输出端;第一电压跟随电路的第二端为导通压降测试电路的第二输出端;第二电压跟随电路的第二端为导通压降测试电路的第三输出端。采用二极管作为高压阻断器件,在电路中加入了高压阻断二极管自身导通压降的测量电路,可对输出信号中包含的二极管导通压降实施精确补偿,提高待测器件导通压降的测量精度。
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资料详情
基本信息
专利号:ZL202310298760.4
专利类型:发明
授权公告号:CN116008768B
授权公告日:2023-07-25
证书号:第6174935号
交易方式:
专利状态:已下证
发明人:李景灏;张政江;施贻蒙;王坤
专利权人:杭州飞仕得科技股份有限公司
所需资料
技术问题 功率半导体器件在严苛的运行环境中容易失效,主要原因是温度过高。为了提高电力电子装置的可靠性,需要一种能够在线测量功率半导体器件结温的技术。然而,现有的导通压降测量技术方案存在无法保证测量精度的问题。 技术功效 本专利提供了一种导通压降测试电路与结温测试仪,采用二极管作为高压阻断器件,并加入了测量电路来精确补偿二极管导通压降,从而提高待测器件导通压降的测量精度。该技术效果为提高测试精度和可靠性。
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