基本信息
专利号:ZL202310298760.4
专利类型:发明
授权公告号:CN116008768B
授权公告日:2023-07-25
证书号:第6174935号
交易方式:
专利状态:已下证
发明人:李景灏;张政江;施贻蒙;王坤
专利权人:杭州飞仕得科技股份有限公司
所需资料
技术问题
功率半导体器件在严苛的运行环境中容易失效,主要原因是温度过高。为了提高电力电子装置的可靠性,需要一种能够在线测量功率半导体器件结温的技术。然而,现有的导通压降测量技术方案存在无法保证测量精度的问题。
技术功效
本专利提供了一种导通压降测试电路与结温测试仪,采用二极管作为高压阻断器件,并加入了测量电路来精确补偿二极管导通压降,从而提高待测器件导通压降的测量精度。该技术效果为提高测试精度和可靠性。